觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用

觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用一.設(shè)計(jì)用途

設(shè)計(jì)用于對(duì)保護(hù)類、計(jì)量類CT/PT進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，適用于實(shí)驗(yàn)室也適用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用二.參考標(biāo)準(zhǔn)

GB 1207-2006、GB 1208-2006

觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用三.主要特征

• 支持檢測(cè)CT和PT

• 滿足 GB1207、GB1208等規(guī)程要求.

無需外接其它輔助設(shè)備，單機(jī)即可完成所有檢測(cè)項(xiàng)目.

• 自帶微型快速打印機(jī)、可直接現(xiàn)場(chǎng)打印測(cè)試結(jié)果.

• 操作簡(jiǎn)便，帶有智能提示，使用戶更易上手操作。.

• 大屏幕液晶，圖形化顯示接口.

• 按規(guī)程自動(dòng)給出CT/PT（勵(lì)磁）拐點(diǎn)值.

• 自動(dòng)給出5%和10%誤差曲線.

• 可保存3000組測(cè)試資料，掉電后不丟失.

• 支持U盤轉(zhuǎn)存資料，可以通過標(biāo)準(zhǔn)的PC進(jìn)行讀取，并生成WORD報(bào)告.

• 小巧輕便≤22Kg，非常利于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試.

觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用四．測(cè)試儀主要測(cè)試功能：（見表1）

表1

觸摸屏220KV電壓互感器校驗(yàn)儀市場(chǎng)應(yīng)用五. 測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)： （見表2）

表2

5.1．工作條件要求

輸入電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；

測(cè)試儀應(yīng)該由帶有保護(hù)接地的電源插座供電。如果保護(hù)地的連接有問題，或者電源沒有對(duì)地的隔離連接，仍然可以使用測(cè)試儀，但是我們不保證安全；

參數(shù)對(duì)應(yīng)的環(huán)境溫度是23℃±5℃；

保證值在出廠校驗(yàn)后一年內(nèi)有效。、

六. 產(chǎn)品硬件結(jié)構(gòu)

6.1．面板結(jié)構(gòu): （圖1）

圖1

6.2．面板注釋：

1 —— 設(shè)備接地端子

2 ——U盤轉(zhuǎn)存口

3 ——打印機(jī)

4 ——液晶顯示器

5 ——過流保護(hù)（功率）開關(guān)

6 ——主機(jī)電源開關(guān)

7 ——P1、P2：CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，大電流輸出端口

8 ——S1、S2：CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，二次側(cè)接入端口

9 ——K1、K2：CT/PT勵(lì)磁（伏安）特性試驗(yàn)時(shí)，電壓輸出端口，電壓法CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，二次接入端

10 ——A、X ：PT變比/極性時(shí)，一次側(cè)接入端口

11 ——a、x ：PT變比/極性時(shí)，二次側(cè)接入端口

12 ——L1、L2：電壓法CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，一次接入端

13 ——D1、D2 ：二次直阻測(cè)試

14 ——主機(jī)電源插座

七.操作方式及主界面介紹

7.1、主菜單 （見圖2）

開機(jī)之后默認(rèn)進(jìn)入CT測(cè)試，CT測(cè)試主菜單共有“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“交流耐壓”、“一次通流” 、“數(shù)據(jù)查詢”、“系統(tǒng)設(shè)置” 、“PT”10種選項(xiàng)。

PT測(cè)試主菜單共有“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“交流耐壓”、“數(shù)據(jù)查詢” 、“CT”8種選項(xiàng)。

八.CT測(cè)試

CT勵(lì)磁（伏安）特性測(cè)試

在CT主界面中，點(diǎn)擊“伏安特性” 選項(xiàng)后，即進(jìn)入測(cè)試界面如圖4。

（1）、參數(shù)設(shè)置：

勵(lì)磁電流：設(shè)置范圍（0—20A）為儀器輸出的高設(shè)置電流，如果實(shí)驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升流，以免損壞設(shè)備。通常電流設(shè)置值大于等于1A，就可以測(cè)試到拐點(diǎn)值。

勵(lì)磁電壓：設(shè)置范圍（0—2500V）為儀器輸出的高設(shè)置電壓，通常電壓設(shè)置值稍大于拐點(diǎn)電壓，這樣可以使曲線顯示的比例更加協(xié)調(diào)，電壓設(shè)置過高，曲線貼近Y軸，電壓設(shè)置過低，曲線貼近X軸。如果實(shí)驗(yàn)中電壓達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升壓，以免損壞設(shè)備。

（2）、試驗(yàn)：

接線圖見界面，測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應(yīng)斷開）。檢查接線無誤后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”選項(xiàng)，即開始測(cè)試。               

試驗(yàn)時(shí)，上方白色狀態(tài)欄會(huì)有提示“正在測(cè)試”，測(cè)試儀開始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測(cè)試儀檢測(cè)完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖。

注意：圖4中“校準(zhǔn)”功能：主要用于查看設(shè)備輸出電壓電流值，不用于互感器功能測(cè)試，詳情見附錄一。 

圖4，CT勵(lì)磁特性測(cè)試界面                   

2）、伏安特性（勵(lì)磁）測(cè)試結(jié)果操作說明試驗(yàn)結(jié)束后，顯示出伏安特性測(cè)試曲線及數(shù)據(jù)（見圖5）。該界面上各操作功能如下：

打    ?。狐c(diǎn)擊“打印”后，先后打印伏安特性（勵(lì)磁）曲線、數(shù)據(jù)，方便用戶做報(bào)告用。同時(shí)減少更換打印紙的頻率，節(jié)省時(shí)間，提率。                                      

勵(lì)磁數(shù)據(jù)：點(diǎn)擊“上頁” 、“下頁”即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的上下翻。

保    存：點(diǎn)擊“保存”選項(xiàng)，按下即可將當(dāng)前所測(cè)數(shù)據(jù)保存，保存成功后，狀態(tài)欄顯示“保存完畢”。并且可在數(shù)據(jù)查詢菜單中進(jìn)行查看。

誤差曲線：點(diǎn)擊“誤差曲線”選定后，屏上將顯示伏安特性試驗(yàn)的誤差曲線的設(shè)置，設(shè)定參數(shù)后，選擇5%或10%誤差曲線即計(jì)算出的誤差曲線。

自定義打?。撼绦驎?huì)按照表格中的10個(gè)電流值進(jìn)行打印。

以下四項(xiàng)為誤差曲線計(jì)算時(shí)的設(shè)置項(xiàng)：

額定負(fù)荷 ：CT二次側(cè)額定負(fù)荷。  

額定二次 ：CT的二次側(cè)額定電流

ALF ：準(zhǔn)確限值系數(shù)，如：被測(cè)CT銘牌為“5P10”，“10”即為限制系數(shù)。

5% ：自動(dòng)計(jì)算出5%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。

10% ：自動(dòng)計(jì)算出10%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。

CT變比極性試驗(yàn)

進(jìn)入CT變比極性菜單后首先選擇測(cè)試方式，對(duì)于套管CT，或者一次阻抗過大無法升電流來測(cè)量變比時(shí)，或接線位置過高不便攜帶沉重的電流線連接時(shí)，請(qǐng)選擇電壓法。

1：電流法變比極性測(cè)試。

1）參數(shù)設(shè)置：

進(jìn)入測(cè)試界面見圖6。

一次側(cè)測(cè)試電流： 0 ～600A，測(cè)試儀P1、P2端子輸出的大電流；

二次側(cè)額定電流： 1A或。

2）試驗(yàn)：

CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接S1、S2，不檢測(cè)的二次繞組要短接，設(shè)置二次側(cè)額定電流及編號(hào)后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”選項(xiàng)，試驗(yàn)即開始。

上方白色狀態(tài)欄會(huì)有提示“正在測(cè)試”，直至試驗(yàn)完畢退出自動(dòng)測(cè)試界面，或按下”停止”人為中止試驗(yàn)，裝置測(cè)試完畢后會(huì)自動(dòng)停止試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示變比極性測(cè)試結(jié)果?？梢赃x擇 “保存” 、“打印”及“返回”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即P1接CT的P1，S1接CT的S1時(shí)，極性的測(cè)試結(jié)果為減極性。

2：電壓法變比極性測(cè)試。

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT主界面中，選擇“變比極性”后，進(jìn)入測(cè)試界面見圖7，設(shè)置二次側(cè)額定電流： 1A或。

2）試驗(yàn)：

CT一次側(cè)接L1、L2，CT二次側(cè)接K1、K2，不檢測(cè)的二次繞組不用短接，設(shè)置二次側(cè)額定電流及編號(hào)后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”選項(xiàng)，試驗(yàn)即開始。

8.3、CT角差比差試驗(yàn)

   CT角差比差測(cè)試同變比極性測(cè)試一樣，可選擇電流法或電壓法兩種測(cè)試方式。

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT主界面中，選擇“角差比差”后，進(jìn)入測(cè)試界面（圖8），（注：應(yīng)參照互感器銘牌上的實(shí)際額定變比值設(shè)定）

額定一次：CT的一次額定電流：0～25000A

額定二次： /1A。

額定負(fù)荷：互感器容量。

實(shí)際負(fù)荷：根據(jù)額定負(fù)載的設(shè)定，可自動(dòng)計(jì)算滿載與輕載兩種狀態(tài)值（輕載為滿載的25％）。

2）試驗(yàn)：

CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接S1、S2。設(shè)置參數(shù)并檢查接線無誤后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”選項(xiàng)，試驗(yàn)即開始。

試驗(yàn)過程中通過按下控制器可終止試驗(yàn)，測(cè)試完畢后自動(dòng)計(jì)算出一次側(cè)與二次側(cè)的相位角差，實(shí)際測(cè)的變比值與用戶設(shè)定的額定變比的百分比差?？梢赃x擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。、

5、CT二次回路試驗(yàn) 

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT主界面中，選擇“二次回路”后，進(jìn)入測(cè)試界面（圖9），設(shè)置好設(shè)定電流值：0～600A。

2）試驗(yàn)：

CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接二次負(fù)載。設(shè)置好通流電流后，合上功率開關(guān)，點(diǎn)擊“開始”選項(xiàng)，，試驗(yàn)即開始，電流保持時(shí)間以進(jìn)度條顯示(0～200A:保持10分鐘；大于200A～300A：保持2分鐘;大于300A：保持3秒鐘)。

CT交流耐壓試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：　

在CT主界面中，選擇“交流耐壓”后，進(jìn)入測(cè)試界面（圖10），設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～2500V。

2）實(shí)驗(yàn)：

被測(cè)CT二次側(cè)短接與測(cè)試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下即開始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測(cè)試過程中，儀器內(nèi)部對(duì)互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測(cè)，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會(huì)自動(dòng)回零，頁面會(huì)顯示“不合格”。

7、CT負(fù)荷試驗(yàn)

參數(shù)設(shè)置：　

在CT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“二次負(fù)荷”試驗(yàn)界面（如圖11），設(shè)置二次側(cè)額定電流： 1A或。線電阻：只在測(cè)試負(fù)載箱時(shí)使用（按照負(fù)載箱銘牌設(shè)定）

試驗(yàn)：　

測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，將被測(cè)負(fù)荷（負(fù)載）接測(cè)試儀的K1、K2端，檢查接線無誤后，選擇“開始”即開始試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示負(fù)荷性測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

8、直阻測(cè)試：                 

1）、校零：

   在CT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“直流電阻”試驗(yàn)界面（如圖12），試驗(yàn)前應(yīng)先對(duì)測(cè)試用導(dǎo)線進(jìn)行校零，在CT主界面顯示菜單上選中 直流電阻測(cè)試項(xiàng)，進(jìn)入直阻測(cè)試界面并選擇“校零”, 校零前將測(cè)試導(dǎo)線的線夾對(duì)接（測(cè)試線短接），然后進(jìn)行校零，校零完成后，界面提示“校零完畢”。

2）、試驗(yàn)：

校零結(jié)束后，參照?qǐng)D24接好測(cè)試線，測(cè)試儀的D1、D2接被測(cè)繞組，選中 “開始” 鍵即開始測(cè)試，試驗(yàn)完成后，即顯示直阻測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“返回”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

9.PT測(cè)試

1、PT勵(lì)磁特性測(cè)試

1)、參數(shù)設(shè)置

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“伏安特性”試驗(yàn)界面（如圖13），

勵(lì)磁電流（0～20A）：輸出電流為儀器輸出的高設(shè)置電流，如果試驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升流。通常1A即可測(cè)試出拐點(diǎn)值。

勵(lì)磁電壓：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗(yàn)：

測(cè)試儀的為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的a、x ，電壓互感器的一次繞組的零位端接地。檢查接線無誤后，合上功率開關(guān)，選擇“開始” 選項(xiàng)后，即開始測(cè)試。                

試驗(yàn)時(shí)，上方白色狀態(tài)欄會(huì)有提示“正在測(cè)試”，測(cè)試儀開始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測(cè)試儀檢測(cè)完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖。

3）、PT（勵(lì)磁）測(cè)試結(jié)果操作說明

請(qǐng)參考CT測(cè)試結(jié)果說明

2、PT變比極性試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：測(cè)試界面見圖15。

一次：0～2500V。

二次：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開始試驗(yàn)：

PT一次側(cè)接A、X，PT二次側(cè)接a、x。設(shè)置二次側(cè)額定電壓及編號(hào)后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開始。

上方白色狀態(tài)欄會(huì)有提示“正在測(cè)試”，直至試驗(yàn)完畢退出測(cè)試界面，或按下控制器人為中止試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示變比極性測(cè)試結(jié)果?？梢赃x擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即A接PT的A，X接PT的X時(shí)，極性的測(cè)試結(jié)果為減極性。

3、PT角差比差試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“角差比差”試驗(yàn)界面（如圖16），（注：應(yīng)參照互感器銘牌上的實(shí)際額定變比值設(shè)定）

額定一次： 3～500KV

額定二次： 100V、100/√3、100/3、150V、220V

額定負(fù)荷：互感器容量。

實(shí)際負(fù)荷：根據(jù)額定負(fù)載的設(shè)定，可自動(dòng)計(jì)算滿載與輕載兩種狀態(tài)值（輕載為滿載的25％）。

2）試驗(yàn)：

PT一次側(cè)接A、X，CT二次側(cè)接a、x。設(shè)置參數(shù)后，選擇“開始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開始。

試驗(yàn)過程中通過按下控制器可終止試驗(yàn)，測(cè)試完畢后自動(dòng)計(jì)算出一次側(cè)與二次側(cè)的相位角差，實(shí)際測(cè)的變比值與用戶設(shè)定的額定變比的百分比差。按下 “打印”即可打印出測(cè)試結(jié)果， “保存”即可保存測(cè)試結(jié)果， “退出”可返回至參數(shù)設(shè)置菜單。如果顯示均為9，則說明誤差超出顯示范圍，請(qǐng)檢查設(shè)定值。

5、PT交流耐壓試驗(yàn)

1）、參數(shù)設(shè)置：　

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“交流耐壓”試驗(yàn)界面（如圖17），

設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～2500V。

2）、實(shí)驗(yàn)：

被測(cè)PT二次側(cè)短接與測(cè)試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下即開始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測(cè)試過程中，儀器內(nèi)部對(duì)互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測(cè)，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會(huì)自動(dòng)回零，頁面會(huì)顯示測(cè)試異常。

6、PT負(fù)荷試驗(yàn)

1）、參數(shù)設(shè)置：　

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“負(fù)荷”試驗(yàn)界面（如圖18），

設(shè)置額定二次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）、試驗(yàn)：　

測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，參照?qǐng)D35進(jìn)行接線，將被測(cè)負(fù)荷（負(fù)載）接測(cè)試儀的K1、K2端，檢查接線無誤后，合上功率開關(guān)，選擇“開始”即開始試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示負(fù)荷性測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

7、直阻測(cè)試：                  

請(qǐng)參照CT直阻測(cè)試。

十.數(shù)據(jù)查詢

在CT/PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“數(shù)據(jù)查詢”試驗(yàn)界面（如圖19），根據(jù)需要選擇“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“退出”等測(cè)試選項(xiàng)，選定測(cè)試項(xiàng)目后，顯示儀器中該項(xiàng)目下所保存的新的測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “上頁” 、“下頁”、“轉(zhuǎn)存”、“退出”、“清除”選項(xiàng)進(jìn)行相應(yīng)操作。

轉(zhuǎn)存時(shí)，插上U盤至測(cè)試儀通訊口“USB”，點(diǎn)擊“轉(zhuǎn)存”則會(huì)將當(dāng)前頁面下所顯示的測(cè)試記錄轉(zhuǎn)存進(jìn)入U盤之中。每條記錄所用時(shí)間約2秒鐘，轉(zhuǎn)存結(jié)束后，界面提示“轉(zhuǎn)存完畢”。

十一.PC 機(jī)操作軟件使用說明

打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”

操作軟件，如圖20即為上位機(jī)操作軟件。

11.2  在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.3如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖20中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖21操作窗口，在圖21中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.4 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖22界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.5 載入全部完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖23。

11.7  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請(qǐng)先清除上次載入的數(shù)據(jù)。

圖23

附  錄

附錄一、 “校準(zhǔn)”測(cè)試方法（以CT為例）

1）參數(shù)設(shè)置：

進(jìn)入CT“勵(lì)磁”測(cè)試界面后，選擇進(jìn)入“校準(zhǔn)”試驗(yàn)界面，設(shè)定好勵(lì)磁電流值：0.1A ～ ;勵(lì)磁電壓值：1V～2500V。

2）開始：

電壓校準(zhǔn)試驗(yàn)參照?qǐng)D24進(jìn)行接線；設(shè)置好被測(cè)電壓后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開始，試驗(yàn)到達(dá)設(shè)定值后將保持輸出電壓/電流值用于檢測(cè)。

電流校準(zhǔn)試驗(yàn)參照?qǐng)D25進(jìn)行接線，電壓設(shè)定值略高于【電流設(shè)定值（A）*負(fù)載（Ω）】，設(shè)置好被測(cè)電流/電壓值后，合上功率開關(guān)，選擇 “開始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開始，試驗(yàn)到達(dá)設(shè)定值后將保持輸出電流/電壓值用于檢測(cè)。

附錄二、售后服務(wù)承諾 ，本產(chǎn)品保修一年，終身維護(hù)。

附錄三、誤差曲線說明                          

根據(jù)互感器二次側(cè)的勵(lì)磁電流和電壓計(jì)算出的電流倍數(shù)（M）與允許二次負(fù)荷（ZII）之間的5%、10%誤差曲線的數(shù)據(jù)中也可判斷互感器保護(hù)繞組是否合格：

1）在接近理論電流倍數(shù)下所測(cè)量的實(shí)際負(fù)荷大于互感器銘牌上理論負(fù)荷值，說明該互感器合格如圖26數(shù)據(jù)說明；

2）在接近理論負(fù)荷下所測(cè)量的實(shí)際電流倍數(shù)大于互感器銘牌上的理論電流倍數(shù),也說明該互感器合格如圖26數(shù)據(jù)說明；

保護(hù)用電流互感器二次負(fù)荷應(yīng)滿足5%誤差曲線的要求，只要電流互感器二次實(shí)際負(fù)荷小于5%誤差曲線允許的負(fù)荷，在額定電流倍數(shù)下，合格的電流互感器的測(cè)量誤差即在5%以內(nèi)。二次負(fù)荷越大，電流互感器鐵心就越容易飽和，所允許的電流倍數(shù)就越小。因此，5%誤差曲線即n/ZL曲線為圖9所示曲線。在圖26中例所示（所測(cè)保護(hù)用CT為5P10 20VA）：其中5為準(zhǔn)確級(jí)（誤差極限為5％），P為互感器形式（保護(hù)級(jí)），10為準(zhǔn)確限值系數(shù)（10倍的額定電流），20VA表示額定二次負(fù)荷（容量）。電流倍數(shù)為10.27倍（接近10倍）時(shí)，所允許的二次負(fù)荷為27.19Ω,大于該CT的額定負(fù)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過該數(shù)據(jù)可判斷該互感器合格。另外，在二次負(fù)荷為19.58Ω(接近20Ω) 所允許的二次負(fù)荷為27.19Ω,大于該CT的額定負(fù)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過該數(shù)據(jù)可判斷該互感器合格。另外，在二次負(fù)荷為19.58Ω(接近20Ω)時(shí)，所允許的電流倍數(shù)為12.85倍，大于該CT的額定電流倍數(shù)（10倍），通過該數(shù)據(jù)也可判斷該互感器合格。其實(shí)，只要找出這兩個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)中的任意一個(gè)，即可判斷所測(cè)互感器是否合格。

如果10％誤差不符合要求一般的做法有：

增大二次電纜界面積（減少二次阻抗）

串接同型同變比電流互感器（減少互感器勵(lì)磁電流）

改用伏安特性較高的繞組（勵(lì)磁阻抗增大）

提高電流互感器變比（增大勵(lì)磁阻抗）

誤差曲線計(jì)算公式：

M =（I*P）/N                   ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電流                          U 電壓

N=1  (1A 額定電流)              I 電流

N=5  ( 額定電流)              Z2 CT二次側(cè)阻抗

P=20 （5％誤差曲線 ）           K=19（5％誤差曲線.1A  額定電流）

P=10 （10％誤差曲線 ）          K=9 （10％誤差曲線.1A  額定電流）

2014年，美國(guó)學(xué)生公平入學(xué)組織哈佛大學(xué)在招生中系統(tǒng)性歧視亞裔，認(rèn)為哈佛大學(xué)以“種族政策”為由壓低亞裔申請(qǐng)人的個(gè)性評(píng)分。

　　歷經(jīng)1年的審判，據(jù)路透社報(bào)道，聯(lián)邦法官艾利森·伯勒斯裁定：“盡管哈佛的錄取程序‘并不’，但她不會(huì)‘僅僅因?yàn)樗梢宰龅酶?，就廢除一個(gè)通過憲法規(guī)定的、非常的錄取程序’。”

　　對(duì)于此次判決結(jié)果，各方態(tài)度截然不同，常春藤盟校認(rèn)同裁決，支持多元化的學(xué)生構(gòu)成。據(jù)《波士頓環(huán)球報(bào)》報(bào)道，布朗大學(xué)發(fā)言人克拉克認(rèn)為，法官的決定重申了多元化的學(xué)生構(gòu)成對(duì)學(xué)生群體帶來的教育益處。

　　美國(guó)亞裔教育聯(lián)盟則發(fā)表聲明譴責(zé)該裁決，“此不公正判決是聯(lián)邦地區(qū)法院洗白哈佛大學(xué)錄取歧視行為，并攻擊亞裔孩子平等教育權(quán)益的錯(cuò)誤之舉。”不僅如此，他們還認(rèn)為，此次裁決違背了《1964年美國(guó)民權(quán)法案》第六條以及美國(guó)憲法第14修正案。

　　暨南大學(xué)華僑華人研究院教授張應(yīng)龍?jiān)诮邮鼙緢?bào)采訪時(shí)說：“波士頓聯(lián)邦地區(qū)法院的判決盡管指出哈佛招生中有不完善的地方，也明白哈佛招生政策的不當(dāng)之處，但堅(jiān)持哈佛的招生政策沒錯(cuò)，實(shí)際上支持了在多元文化旗號(hào)下的種族歧視。”